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昌昊實業(yè) TT300超聲波測厚儀操作規(guī)程
1、將探頭插入主機探頭插座。
2、按ON鍵開機進入系統(tǒng)設置。
3、設定探頭頻率；按MODE鍵移動光標至下圖位置，按ENTER鍵將依次顯示2M、5M、10M、H2M需要設定的探頭頻率。
4、聲速調(diào)整：按VEL鍵進入聲速狀態(tài)，屏幕將顯示當前聲速存儲單元的內(nèi)容。每按一次，聲速存儲單元變化一次，可循環(huán)顯示五個聲速值。如果希望改變當前顯示聲速單元的內(nèi)容，用↑或↓鍵調(diào)整到期望值即可，同時將此值存入該單元。
5、測定厚度：先設置好聲速，然后將耦合劑涂于被測處，將探頭與被測材料耦合即可測量，屏幕將顯示被測材料厚度，拿開探頭后，厚度值保持，耦合標志消失。
6、測量聲速：先用卡尺測量試塊，準確讀取厚度值。將探頭與已知厚度試塊耦合，直到顯示出厚度值，拿開探頭后，用↑或↓鍵將顯示值調(diào)整到實際厚度值，然后按VEL鍵即可顯示被測聲速，同時該聲速被存入當前聲速存儲單元，聲速測量必須選擇足夠厚度的試塊，推薦最小壁厚為20.0mm，進行聲速測量時應關(guān)閉最小捕捉和二點校準功能。
7、設置限界：1）按MODE鍵移動光標至LIMIT；2）按ENTER鍵分別顯示原設定的下限或上限，用↑或↓鍵設置新的下限或上限；3）按VEL鍵或MODE鍵或進行測量推出界限設置。
8接收增益設置：兩種增益選擇，LOW和HIGH，LOW增益用于測量散射大、聲吸收小的粗晶材料。
9、測量單位和顯示分辨率：按MODE鍵移動光標至MENU，按ENTER鍵進入主菜單，用↑↓鍵至系統(tǒng)設置，按ENTER鍵顯示米制或英制；按↑↓鍵選擇Resolution，按ENTER鍵顯示HIGH（0.01mm）LOW(0.1mm)；按VEL鍵退出設置。
10、最小測量值捕捉：捕捉一組測量值中最小的數(shù)值。按MODE鍵選擇菜單進入System setup按↑或↓鍵選擇Min capture 按ENTER鍵顯示ON、OFF。按VEL鍵退出設置
二點校準：選擇與被測物的材料、聲速及曲率相同的兩個標準試塊，其中一個試塊的厚度等于或略高于測量范圍的上限，另一個試塊厚度盡可能接近測量范圍的下限，進行二點校準。按MODE鍵移動光標至MENU→System setup→2-Point CAL→按ENTER鍵選ON或OFF。選ON后進入二點校準，屏幕提示校準薄塊，即測量薄塊用↑或↓鍵將測量值調(diào)整到標準值；按ENTER鍵屏幕提示校準厚塊，即測量厚塊用↑或↓鍵將測量值調(diào)整到標準值，按ENTER鍵完成校準操作即可進行測量。
2、按ON鍵開機進入系統(tǒng)設置。
3、設定探頭頻率；按MODE鍵移動光標至下圖位置，按ENTER鍵將依次顯示2M、5M、10M、H2M需要設定的探頭頻率。
4、聲速調(diào)整：按VEL鍵進入聲速狀態(tài)，屏幕將顯示當前聲速存儲單元的內(nèi)容。每按一次，聲速存儲單元變化一次，可循環(huán)顯示五個聲速值。如果希望改變當前顯示聲速單元的內(nèi)容，用↑或↓鍵調(diào)整到期望值即可，同時將此值存入該單元。
5、測定厚度：先設置好聲速，然后將耦合劑涂于被測處，將探頭與被測材料耦合即可測量，屏幕將顯示被測材料厚度，拿開探頭后，厚度值保持，耦合標志消失。
6、測量聲速：先用卡尺測量試塊，準確讀取厚度值。將探頭與已知厚度試塊耦合，直到顯示出厚度值，拿開探頭后，用↑或↓鍵將顯示值調(diào)整到實際厚度值，然后按VEL鍵即可顯示被測聲速，同時該聲速被存入當前聲速存儲單元，聲速測量必須選擇足夠厚度的試塊，推薦最小壁厚為20.0mm，進行聲速測量時應關(guān)閉最小捕捉和二點校準功能。
7、設置限界：1）按MODE鍵移動光標至LIMIT；2）按ENTER鍵分別顯示原設定的下限或上限，用↑或↓鍵設置新的下限或上限；3）按VEL鍵或MODE鍵或進行測量推出界限設置。
8接收增益設置：兩種增益選擇，LOW和HIGH，LOW增益用于測量散射大、聲吸收小的粗晶材料。
9、測量單位和顯示分辨率：按MODE鍵移動光標至MENU，按ENTER鍵進入主菜單，用↑↓鍵至系統(tǒng)設置，按ENTER鍵顯示米制或英制；按↑↓鍵選擇Resolution，按ENTER鍵顯示HIGH（0.01mm）LOW(0.1mm)；按VEL鍵退出設置。
10、最小測量值捕捉：捕捉一組測量值中最小的數(shù)值。按MODE鍵選擇菜單進入System setup按↑或↓鍵選擇Min capture 按ENTER鍵顯示ON、OFF。按VEL鍵退出設置
二點校準：選擇與被測物的材料、聲速及曲率相同的兩個標準試塊，其中一個試塊的厚度等于或略高于測量范圍的上限，另一個試塊厚度盡可能接近測量范圍的下限，進行二點校準。按MODE鍵移動光標至MENU→System setup→2-Point CAL→按ENTER鍵選ON或OFF。選ON后進入二點校準，屏幕提示校準薄塊，即測量薄塊用↑或↓鍵將測量值調(diào)整到標準值；按ENTER鍵屏幕提示校準厚塊，即測量厚塊用↑或↓鍵將測量值調(diào)整到標準值，按ENTER鍵完成校準操作即可進行測量。